专利摘要:
静電変換器およびアレイを製造するための方法は、2つの切断ステップを含む技術を使用して、変換器要素の基板セグメントを互いから電気的に分離し、第1のステップは、基板においてパターン化された開口を形成し、基板セグメントの部分的分離を形成し、第2のステップは、第2のステップの完了時に基板セグメントの不安定性を回避するように基板セグメントを固定した後に分離を完了する。基板セグメントの固定は、部分的な分離内に非導電材料を充填するか、または変換器アレイを支持基板上に固定することによって達成され得る。基板が導電性である場合、分離された基板セグメントは、個別にアドレスされ得る個別の底面電極として機能する。当該方法は、1次元変換器アレイを製造するために特に有用である。
公开号:JP2011505765A
申请号:JP2010536237
申请日:2008-12-03
公开日:2011-02-24
发明作者:ファン ヨンリ
申请人:コロ テクノロジーズ インコーポレイテッド;
IPC主号:H04R31-00
专利说明:

[0001] 本出願は、2007年12月3日に出願された米国特許出願第60/992,052号、名称「PACKAGING AND CONNECTING ELECTROSTATIC TRANSDUCERARRAYS」の優先権を主張する。]
[0002] 本出願は、いずれも本出願と同日に出願された国際(PCT)特許出願第______号(代理人整理番号KO1−0004PCT2)、名称「CMUTPACKAGING FOR ULTRASOUND SYSTEM」および国際(PCT)特許出願第______号(代理人整理番号KO1−0018PCT)、名称「PACKAGING AND CONNECTING ELECTROSTATIC TRANSDUCERARRAYS」にさらに関し、これらのPCT出願は、それら全体として参照することによって本明細書に組み込まれる。]
[0003] 本出願は、2006年5月18日に出願された国際(PCT)特許出願第PCT/IB2006/051566号、名称「THROUGH−WAFERINTERCONNECTION」にさらに関し、このPCT出願は、その全体として参照することによって本明細書に組み込まれる。]
[0004] 本開示は、変換器および変換器アレイの相互接続部の製造および形成に関し、特に容量性マイクロマシン加工超音波変換器(cMUT)アレイの相互接続部の製造および形成に関する。]
背景技術

[0005] 変換器アレイの相互接続部を適切な基板上に形成することは、変換器アレイを使用する任意の用途、特に多数の要素を有する変換器アレイに対する鍵となる。かかる実施例の1つは、超音波変換器アレイを使用する超音波撮像である。超音波変換器アレイの適切なパッケージングおよび相互接続部は、低コストで所望の性能を達成するために非常に重要である。]
[0006] 容量性マイクロマシン加工超音波変換器(cMUT)は、静電アクチュエータ/変換器であり、様々な用途において広く使用されている。超音波変換器は、液体、固体、および気体を含む多様な媒体で動作し得る。超音波変換器は、一般に、診断および治療のための医療撮像、生化学的撮像、材料の非破壊評価、ソナー、コミュニケーション、近接センサ、ガスフロー測定、in−situプロセスモニタリング、超音波顕微鏡法、水中感知および撮像、および多数の他の実際の用途に使用される。cMUTの典型的な構造は、堅い底面電極および可撓性膜上または内に常駐する可動上部電極を有する平行板キャパシタであり、隣接する媒体において音響波を伝送/正確化(TX)または受信/検出(RX)するために使用される。通常、感度および帯域幅を最大化することを目標として、直流電流(DC)バイアス電圧を電極間に印加し、cMUT動作に最適な位置に膜を偏向させ得る。伝送中に、交流電流(AC)信号を変換器に印加する。上部電極と底部電極との間の交番静電力は、cMUTを取り囲む媒体に音響エネルギーを送達するために、膜を作動させる。受信中に、衝突する音響波は、膜を振動させるため、2つの電極間のキャパシタンスを変える。]
[0007] 上部電極は、通常、音響波を伝送および検出するために使用されるcMUTの可動電極である。可動電極は媒体に面し、通常は基板表面の上部にあるため、上部電極と称される。底面電極は、通常、少なくとも部分的に固定(静止)され、通常は基板内の上部電極の下に位置する。大部分のcMUT用途において、複数のcMUT要素を有するcMUTアレイを使用して、所望の機能を行う。通常、アレイ内の各cMUT要素は、その2つの電極のうちの1つからアドレスされ(信号線に接続され)、別の電極は、アレイ内の複数のcMUT要素またはすべてのcMUT要素によって共有される共通電極に接続される。現在、大部分のcMUTアレイ、特に1次元アレイは、共通の固定された底面電極を有する。アレイ内の各要素は、その移動上部電極から個別にアドレスされる。上部移動電極を個別にアドレスされる電極として使用する理由は、単に製造の容易性からである。]
[0008] しかしながら、移動上部電極を使用して媒体に面するため、上部電極に対する電極接続部を形成する方法には一部制限がある。性能、パッケージング、および電極接続部を考慮すると、cMUTアレイの固定底面電極をホット電極(すなわち、個別にアドレスされる電極)に形成し、上部電極を共通電極に形成することが望ましい場合が多い。]
[0009] 底面固定電極を個別にアドレスされる電極として形成することが知られる相互接続部を処理、パッケージング、および形成するいくつかの方法がある。1つの典型的な方法は、様々な方法を使用して基板上に穴を開け、続いて導電材料を使用して穴を充填することである。当該プロセスは比較的複雑であり、性能の制限を有する。またこの方法において、相互接続部の寄生容量と導電性との間にトレードオフがある。このトレードオフはデバイス性能に影響する。さらに、この方法は通常、可撓性cMUTアレイを形成できない。]
[0010] 別の方法は、要素の下にある基板を切断して個別の底面電極を形成することである。当該切断は、基板材料をエッチングすることによって行うことができる。しかしながら、アレイ内の各要素の下にある基板は、その隣接要素または基板の残りから完全に分離されるため、これらの方法は、基板の切断中に、アレイ内の要素をともに支持または保持するための技術を要する。1つの典型的な技術は、その製造基板を有するcMUTを別の基板に結合することであり、これがアレイ内の変換器要素を支持または保持して、製造工程を継続し、相互接続部およびパッケージングを形成する。別の技術は、工程中に、要素間に充填材料を使用して、変換器要素を保持することである。通常、材料は絶縁材料であり、誘電材料または複数の材料の組み合わせであり得る。]
発明が解決しようとする課題

[0011] 既存の方法は、主に2次元アレイの相互接続部を形成するために開発される。これらの方法は比較的複雑であり、1次元アレイ装置にとって経済的でない場合がある。cMUTアレイ、特に1次元cMUTアレイに対するより良い相互接続方法が所望される。]
課題を解決するための手段

[0012] 静電変換器および変換器アレイの相互接続部を製造および形成するための方法を開示する。当該方法は、2つの切断ステップを含む技術を使用して、変換器要素の基板部分を互いから電気的に分離する。第1の切断ステップは、基板内にパターン化開口を形成し、変換器要素の部分的な分離を形成する。第1の切断ステップ後に、変換器アレイを固定して、第2の切断ステップの完了時に変換器要素の不安定性を回避する。次いで、第2の切断ステップを行い、分離を完了する。基板が導電性である場合、変換器要素の分離された基板セグメントは、個別にアドレスされ得る分離した底面電極として機能する。当該方法は、1次元変換器アレイを製造するために特に有用である。]
[0013] 本開示の一態様は、少なくとも1つの変換器要素を含む変換器を基板上に製造するための方法である。当該方法は、基板内に第1のパターン化開口を形成する。第1のパターン化開口は、変換器要素に対応する基板セグメントの部分的な境界を画定し、基板内の接続部分によって、変換器要素が依然として基板の残りに部分的に接続されるようにする。次いで、変換器を固定し、基板内の接続部分が除去されても、変換器要素が依然として基板に対して安定するようにする。続いて、当該方法は、基板内の接続部分を除去して、変換器要素が基板の残りと直接接触しないようにする。導電性基板とともに、変換器要素は、基板内の接続部分を除去した後、個別にアクセス可能な底面電極として機能する基板セグメントを有する。また当該方法を使用して、変換器アレイを基板の残りから完全に分離してもよく、変換器アレイが基板の残りから除去され得るようにする。当該方法は、分離された底面電極を有する複数の変換器要素を有する静電変換器アレイを製造するために使用することができ、特に1次元変換器アレイを形成するために好適である。また当該方法を使用して、スルーウエハ相互接続部を形成し、裏面から正面側電極にアクセスしてもよい。]
[0014] 一実施形態において、接続部分は機械的に脆弱な接続部であり、機械的に脆弱な接続部を単に破壊することによって除去される。他の実施形態において、接続部分は、第2のパターン化開口を基板内に形成することによって除去される。第1のパターン化開口および第2のパターン化開口は、ともに変換器要素の完全な境界を相補的に画定し、基板内の変換器要素を分離するように設計される。第1のパターン化開口および第2のパターン化開口の両方は、基板の裏面から形成され得る。予備のパターン化開口は、最初に基板の一側面から形成されて基板内の深部に到達し得、第1のパターン化開口および第2のパターン化開口は、他の側面から形成されて予備のパターン化開口に会合し得、変換器要素の分離を完了する。]
[0015] 本発明の概要は、発明を実施するための形態において以下でさらに説明される簡略化形態で一連の概念を導入するために提供される。本発明の概要は、特許請求される主題の主要な特徴または基礎的な特徴を特定することを意図せず、特許請求される主題の範囲を決定する補助として使用されることも意図しない。]
図面の簡単な説明

[0016] 発明を実施するための形態を、添付の図面を参照して説明する。図面において、参照番号の左端の桁(1つまたは複数)は、参照番号が最初に現れる図を特定する。異なる図における同一の参照番号の使用は、同様または同一の項目を示す。
開示される方法の第1の典型的な実施形態を示す図である。
開示される方法で実現され得る、パターン化開口のいくつかの典型的な構成の底面図である。
開示される方法で実現され得る、パターン化開口のいくつかの典型的な構成の底面図である。
開示される方法で実現され得る、パターン化開口のいくつかの典型的な構成の底面図である。
開示される方法の第2の典型的な実施形態を示す図である。
開示される方法の第2の典型的な実施形態を示す図である。
開示される方法の第2の典型的な実施形態を示す図である。
開示される方法の第3の典型的な実施形態を示す図である。
開示される方法の第4の典型的な実施形態を示す図である。
図6または図7の方法で製造されるいくつかの典型的なcMUTの断面図である。
図6または図7の方法で製造されるいくつかの典型的なcMUTの断面図である。
図6または図7の方法で製造されるいくつかの典型的なcMUTの断面図である。
底面から上部電極にアクセスするためのスルーウエハ相互接続部を有する典型的なcMUT変換器アレイの底面図および断面図である。
底面から上部電極にアクセスするためのスルーウエハ相互接続部を有する典型的なcMUT変換器アレイの底面図および断面図である。] 図6 図7
実施例

[0017] 静電変換器アレイ、特にcMUTアレイのための相互接続部をパッケージングおよび形成する方法が開示される。開示される方法は、特に1次元変換器アレイをパッケージングするために好適であるが、他の種類の変換器アレイにおいても同様に使用することができる。]
[0018] この説明において、誘電材料は非導電物質、すなわち絶縁体である。本開示に好適な誘電材料の実施例は、PDMS、パリレン、窒化膜、酸化膜、リストン、キャプトン、フォトレジスト、他のポリマー、およびポリイミドを含むが、それらに限定されない。]
[0019] MEMSまたは半導体製造工程を使用して変換器(例えば、cMUTアレイ)を製造するために使用される基板は、製造基板と称される。通常、製造基板はシリコンウエハまたはガラスウエハである。]
[0020] 所望の金属パターンまたは他の電気構成要素を用いて変換器をパッケージングまたは組み立てるために使用される基板は、パッケージング基板と称される。]
[0021] 本開示における「エッチング」および「切断」等の用語は、材料を除去して所望のパターンを形成するための任意の好適な方法を意味する。本開示における「パターン」または「パターン化開口」は、トレンチ、材料内の大型開口、または全体層またはウエハの全体薄膜化であり得る。「エッチング」または「切断」という方法は、乾式エッチング、湿式エッチング、ダイシング、粉砕/研磨、フライス、および機械的破壊を含み得るが、それらに限定されない。本開示における「充填材料」または「充填材」は、外部から追加されるか、または(例えば、熱酸化によって)局所的に形成され得る。]
[0022] 原則として、本明細書で開示される方法は、基板上に構築される複数の変換器要素を有する任意の変換器またはセンサアレイに適用され得る。当該方法は、特にcMUTアレイに好適である。可撓性膜cMUTおよび埋め込まれたバネcMUT(EScMUT)の両方を含む任意のcMUT設計を使用してもよい。cMUTは、電極間隙によって互いから分離される第1の電極および第2の電極を有し、電極間にキャパシタンスが存在するようにする。バネ部材(例えば、可撓性膜またはバネ層)は、電極のうちの1つを支持して、2つの電極が互いから離れて移動できるようにする。可撓性膜cMUTにおいて、バネ部材は電極のうちの1つを直接支持する可撓性膜である。EScMUTにおいて、バネ部材は、バネ−板コネクタによってバネ層から吊設される板上の電極を支持するバネ層である。]
[0023] 当該開示においては、可撓性膜cMUT設計を使用して開示される方法を説明するが、同一の方法をEScMUT、または任意の他の変換器およびセンサに使用することができる。]
[0024] 図1は、開示される方法の第1の典型的な実施形態を示す。当該方法のいくつかの主要なステップは、複数の連続図面において説明される。別段の指定がない限り、本記載における図面は断面図である。本説明において、プロセスが説明される順序は、限定として見なされることを意図せず、任意の数の説明されるプロセスブロックは、当該方法または代替方法を実現するために任意の順序で組み合わされてもよい。] 図1
[0025] 図1.1に示されるステップ1において、変換器101は基板110上に製造される。変換器層120の構造的詳細は、開示される製造方法に必須ではないため図示されない。変換器101は、複数の変換器要素を有する変換器アレイであり得る。しかしながら、図1は、単一の変換器要素101−1を使用して、当該方法の基本概念を説明する。] 図1
[0026] 図1.2および図1.2Bに示されるステップ2において、第1のパターン化開口170は基板110内に形成される。示される第1のパターン化開口170は、基板110の底面側(裏面)から上側に延在する開口であり、ここで変換器層120が形成される。図1.2Bは、基板110の底面側からの第1のパターン化開口170の形状または輪郭の図を示す。図1.2Bに示されるように、第1の開口170は、変換器要素101−1に対応する基板セグメント110−1の部分的な境界を画定する。変換器要素101−1は、基板セグメント110−1の上に構築され、基板セグメント110−1を含む。基板セグメント110−1は、基板セグメント110−1の境界の接続部分(一般に領域111として示される)によって、基板110の残りに部分的に接続されている。] 図1
[0027] 第1の開口170は、任意の好適な方法を使用して形成され得る。基板110がシリコンウエハ等の半導体型ウエハである場合、第1の開口170を形成する好適な方法はエッチングである。エッチングは、基板の正面側または裏面、あるいは両側から1つまたは複数のエッチングステップを用いて行われ得る。第1の開口170の形状およびプロファイルは、第1の開口170が基板110の残りから変換器要素101−1に対応する基板セグメント110−1を部分的に分離する限り、任意の形状であり得、均一であってもなくてもよい。第1の開口170の形成は、cMUTの製造と統合されてもよく、ステップ1において行われ得る(図1.1)。] 図1
[0028] 図1.3に示されるステップ3において、適切な充填材料171が第1の開口170に充填され、変換器要素101−1およびその対応する基板セグメント110−1を固定し、基板110内の接続部分111が次のステップで除去されても、基板セグメント110−1が基板110の残りとともに安定するようにする。本明細書で示されるように、他の方法を使用して、変換器要素101−1およびその対応する基板セグメント110−1を固定してもよい。一実施例は、このステップにおいて、その基板110を含む変換器101を別の基板に取り付けることである。] 図1
[0029] 図1.4および図1.4Bに示されるステップ4において、第2のパターン化開口175を形成して、基板110内の接続部分110を除去し、変換器要素101−1が基板110の残りに直接接触しないようにする。変換器要素101−1およびその基板セグメント110−1は、充填材料171を使用して事前に固定されるため、これらの構成要素は、第2のパターン化開口175が形成される場合に安定している。] 図1
[0030] 図示される実施形態において、第2のパターン化開口175は、第1のパターン化開口170と同程度の深さを有する開口である。このステップにおいて、図1.4Bの背面図に示されるように、第1の開口170および第2の開口175は、ともに対応する変換器要素101−1の基板セグメント110−1の完全な境界を画定する。この説明において、「完全な境界」という用語は、基板セグメントを基板の水平(縦)方向に完全に包囲し、また基板の垂直(横)方向に所定の深さ分、延在する境界を意味するが、基板セグメントの任意の内在、既存、または事前に形成された境界を必ずしも含むとは限らない。かかる内在、既存、または事前に形成された境界の実施例は、基板の上面および底面であり、事前に形成された境界は、本明細書に示されるように、基板の上側から形成される予備の開口によって画定される。] 図1
[0031] 第2のパターン化開口175が形成された後、基板要素110−1は、基板110の残りと直接接触しなくなる。この段階における基板要素110−1と基板110の残りとの間の接触のみが、充填材料171および変換器層120の材料または部分等の間接的接触である。典型的なウエハによるマイクロマシン加工変換器において、基板110は導電性であり、変換器層120は、変換器層120に含まれ得る底面電極(図示せず)を除いて、導電性基板110から大部分が電気的に絶縁される。変換器層120が、下部導電性基板セグメント110−1に加えて、底面電極を含む場合、底面電極は、変換器層120の残りから電気的に絶縁され、導電基板110−1の一部と見なされ得る。この実施形態において、充填材量が誘電性である場合、基板セグメント110−1は、基板110の残り、および同一の変換器101内の他の変換器要素に対応する基板セグメントから電気的に絶縁される。そのため、電気的に絶縁される導電性基板セグメント110−1は、変換器要素101−1の個別の底面電極として機能し得る。]
[0032] 第1のパターン化開口170と同様に、第2のパターン化開口175は、任意の好適な方法および任意の形状で形成され得る。第2の開口175は、裏面からエッチングされる基板110内のトレンチであり得る。第2の開口175は、1つまたは複数のエッチングステップを用いて、基板の正面側または裏面側のいずれか、または両側から形成され得る。したがって、開口170のプロファイルは均一であってもなくてもよい。さらに、第2の開口175の少なくとも一部の形成は、cMUT製造工程と統合されてもよく、ステップ1において行われ得る(図1.1)。] 図1
[0033] 図1.5に示されるステップ5において、第2のエッチングされた開口175は、所望の材料176で随意に充填される。] 図1
[0034] 個別の変換器要素の基板セグメントを分離する上述の方法の単純な使用は、変換器アレイの相互接続部を形成することである。分離される基板セグメント(110−1)は、変換器要素の個別の底面電極として機能し、変換器アレイの底面側から直接アクセスされ得る。本明細書でさらに示されるように、同一の方法を使用して、スルーウエハ相互接続部を形成し、変換器アレイの上部電極にアクセスしてもよい。]
[0035] 変換器アレイ101の変換器層120は、相互接続部の製造前(図1に示されるように)または後に製造され得る。さらに、変換器層120の製造は、相互接続部の製造と統合されてもよい。] 図1
[0036] 図2〜4は、開示される方法で実現され得るパターン化開口のいくつかの典型的な構成の底面図を示す。図2A、図3Aおよび図4Aは、それぞれ基板210、310、および410内の典型的な第1のパターン化開口270、370および470である。図2B、図3Bおよび図4Bは、基板内の対応する第2のパターン化開口275、375および475の典型的な構成である。各実施例において、第1のパターン化開口(270、370および470)ならびに第2のパターン化開口(275、375および475)はともに、変換器要素に対応する予想される基板セグメント(210−1、310−1および410−1)の境界を画定する。] 図2 図2A 図2B 図3 図3A 図3B 図4 図4A 図4B
[0037] 特に、図4Aにおける第1のパターン470は、基板セグメント410−1のほぼ完全な境界を画定し、機械的に脆弱な部分470aのみを残して、基板セグメント410−1を基板410の残りと接続する。この実現形態において、接続部分の除去は、実質的に第2のパターン化開口の形成を必要としない。代わりに、図4Bに示されるように、図4Aにおいて形成される脆弱部分470aを単に破壊することによって接続部分の除去を行ってもよく、基板セグメント410−1が、任意の標準エッチングまたは切断方法を使用せずに、基板410の残りから分離され得る。] 図4A 図4B
[0038] 当該方法は、さらにcMUTアレイの文脈において以下に示される。]
[0039] 図5は、開示される方法の第2の典型的な実施形態を示す。当該方法は、501−0、501−1、501−2、501−3および501−4等の複数のcMUT要素を有する2次元cMUTアレイ501の形成に使用される。典型的な方法は、相互接続部のためのcMUT要素の個別の底面電極を形成するために使用される。]
[0040] ステップ1において(図5.1、5.1Aおよび5.1Bに示される)、cMUTアレイ501は、基板510上で製造される。cMUT要素501−0は、cMUT要素501−1、501−2、501−3および501−4を隣接させることによって囲まれる。図5.1は上面図を示すが、図5.1Aおよび図5.1Bは、それぞれこのステップにおけるAA′方向の断面図およびBB′方向の断面図を示す。AA′およびBB′方向の断面図は、このステップにおいて類似している。cMUTアレイ501は基板510を含み、これがcMUT要素の底面電極/基板セグメント、上部電極520、可撓性膜530、膜アンカー540、および空洞/変換空間560を形成することになる。予備のエッチングパターン573(例えば、トレンチ)は、cMUT製造中に基板510の上側から随意に形成される。予備のエッチングパターン573は、cMUT構造が製造される前に、基板510の第1のウエハ上に直接形成されてもよく、予備のエッチングパターン573が、上部電極520の下、および基板510の上部分に埋め込まれるようにする。図示される実施形態において、予備のエッチングパターン573は、基板510の表面全体に2つの垂直水平方向に沿って延在する2つの平行なトレンチ群を有し、グリッドを形成する。グリッドの十字領域は、基板510の上側から各変換器要素の境界を画定する。必要に応じて、予備のエッチングパターン573は、所望の材料で充填され得る。]
[0041] ステップ2(図5.2に示される)において、第1のエッチングパターン570(例えば、トレンチ)は裏面から形成され、予備のエッチングパターン573の底部に到達する。基板510は、エッチング前に薄化され得る。第1のパターン570は、予備のエッチングパターン573がステップ1において形成されていない場合、基板510を通じてエッチングされるべきである。第1のエッチングパターン570は、任意の好適な材料で充填され得る。充填材量は、添加材料(例えば、LTO、窒化物、PDMS、ポリイミド、ホトレジスタ、ポリマー等)であり得るか、または(例えば、熱酸化を使用して)局所的に形成され得る。]
[0042] 図5.2は、cMUTアレイ501の底部を示すが、図5.2Aおよび図5.2Bは、それぞれこの段階におけるAA′およびBB′方向の断面図を示す。示される第1のエッチングパターン570は、単なる実施例である。第1のエッチングパターン570は、各変換器要素(501−1、501−2、501−3および501−4)に対応する各基板セグメント(510−0、510−1、510−2、510−3および510−4)の部分的な境界を画定し、基板510内に残存する所定の接続部分511によって、基板セグメント(510−0、510−1、510−2、510−3および510−4)は、基板510に部分的に接続されている。]
[0043] 図5において示される実施形態において、第1のエッチングパターン570は、基板510の底面上に第1の水平方向に沿って延在するトレンチ(570)を含む。トレンチ(570)は、隣接するcMUT要素間に形成され、基板(図5.2における紙)へと延在して、同一の水平方向に沿って延在する予備のエッチングパターン573における2つの平行トレンチ群のうちの1つの対応する底部に会合する。予備のエッチングパターン573は、2つの平行トレンチ群を有するため、他の水平方向に沿って延在する予備のエッチングパターン573の平行トレンチの第2の群の下の領域(511)は、接続部分として機能し、依然として基板セグメント(510−0、510−1、510−2、510−3および510−4)を基板510に接続する。]
[0044] 言い換えれば、第1のエッチングパターン570は、cMUT要素の境界に沿って、一部の非エッチング領域(511)を残す。非エッチング領域511は、ステップ2における製造工程中にcMUTアレイ501を保持する。非エッチング領域511は、cMUTアレイ501が別の基板と統合される必要がある場合に、cMUTアレイ501を保持するための機能も果たし得る。]
[0045] ステップ3(図5.3に示される)において、第2のエッチングパターン575(例えば、トレンチ)は、予備のエッチングパターン573内の平行トレンチの他の群の底部に到達するように、裏面から形成される。基板510は、エッチング前に薄化され得る。図5.3は底面図を示すが、図5.3Aおよび図5.3Bは、それぞれこのステップにおけるAA′およびBB′方向の断面図を示す。]
[0046] 第2のエッチングパターン575は、任意の予備エッチングパターン573がステップ1において形成されていない場合に、基板を通してエッチングされるべきである。エッチングは、ステップ2において残されたcMUT要素の境界における、非エッチング領域または接続領域511を除去することを目的とする。第2のエッチングパターン575および第1のエッチングパターン570はともに、cMUT要素(501−1、501−2、501−3および501−4)の基板セグメント(510−0、510−1、510−2、510−3および510−4)の境界を相補的に画定する。図示される典型的な第2のエッチングパターン575は、第1のエッチングパターン570内のトレンチに垂直な水平方向に沿って延在する平行トレンチの群を含み、予備のエッチングパターン573によって形成されるグリッドに対応するグリッドを形成する。グリッドの十字領域は、変換器要素の境界を基板510の底面側から画定する。]
[0047] 任意で、製造されるcMUTアレイ501は、本明細書において示されるような所望の接続パターンを用いて、基板(例えば、PCB、ICチップ等)と結合してもよい。]
[0048] 図示される実施例は、エッチングパターンの平行トレンチを示すが、第1のエッチングパターンが変換器要素の部分的境界のみを画定し、第2のエッチングパターンが第1のエッチングパターンに対して相補的であって、変換器要素の境界を完成させる限り、任意の形状を使用できることに留意されたい。例えば、図2、3および4に示される第1のエッチングパターンの任意の典型的な形状および構成、および相補的な第2のエッチングパターンを使用してもよい。] 図2
[0049] 開示される方法は、1次元変換器アレイ内の底面電極として、基板をセグメントに分離するために特に有用である。1次元変換器アレイ内の底面電極となる分離基板セグメントを形成する2つの典型的な実施形態は、図6および図7を参照して以下に示される。] 図6 図7
[0050] 図6は、開示される方法の第3の典型的な実施形態を示す。図6は、個別の変換器要素に対して個別の基板セグメントを形成する様々なステップにおいて、基板610上で製造される1次元変換器アレイ601の底面図を示す。1次元変換器アレイ601は、X軸によって示される水平方向に沿って、並んで配列される複数の変換器要素を有する。] 図6
[0051] 第1のステップ(図6.1に示される)は、第1の切断パターン670を形成する。第1の切断パターン670は、Y軸によって示される水平方向に沿ってトレンチ(670)を含む。トレンチ(670)は形成される基板セグメント(例えば、610−0、610−1および610−2)に対応する変換器要素間に配置される。第1の切断パターン670は、1次元変換器アレイ601の分離された基板セグメント(例えば、610−0、610−1および610−2)の幅またはピッチを画定し、対応する変換器要素の基板セグメントを部分的に分離する。] 図6
[0052] 第2のステップ(図6.2に示される)は、第1のパターン670を適切な材料671で充填する。材料671は、充填され得るか、または(例えば、酸化によって)局所的に形成され得る。この充填ステップは、アレイが支持物体(例えば、PCB,ICチップ、または任意の他の基板)に取り付けられる場合、任意であり得る。] 図6
[0053] 第3のステップ(図6.3に示される)は、第2の切断パターン675を形成する。図6.3は、このステップにおける、第1の切断パターン670および第2の切断パターン675を有する基板610の底面図を示す。第2の切断パターン675の図示される実施形態は、第1の切断パターン670におけるトレンチに実質的に垂直なX軸によって示される、水平方向に沿って延在する2つのトレンチを含む。第2の切断パターン675における第1のトレンチは、変換器要素の基板セグメント(例えば、610−0、610−1および610−2)の第1の共通側面(図6.3における上側)において形成され、第2の切断パターン675における第2のトレンチは、変換器要素の基板セグメント(例えば、610−0、610−1および610−2)の第2の共通側面(図6.3における底側)において形成される。第2の切断パターン675および第1の切断パターン670をともに組み合わせて、610−0、610−1および610−2等の分離された基板セグメントの境界を相補的に画定する。必要に応じて、第2の切断パターン675は、適切な材料を使用して任意に充填され得る。] 図6
[0054] 第1の切断パターン670の形状および寸法は、要素寸法および変換器アレイ601のピッチの両方によって部分的に制限される。第2の切断パターン675のトレンチは、変換器アレイ601の端部に配置されるため、切断パターン675の形状および寸法、ならびに切断パターン675を形成する切断方法を選択する自由度がはるかに多い。例えば、第2の切断パターン675は、変換器アレイがパッケージングされる前または後のいずれかに、ダイシングによって簡単に形成され得る。]
[0055] さらに、図6.3に示される第2の切断パターン675は、アレイがパッケージングされる前または後に、変換器アレイ601を基板610から手動で破壊することによって、簡単に行うことができる。第1の切断パターン670は、この手順を容易にするように特別に設計される必要があり得る。この目的に適した典型的な第1の切断パターン670aは、図6.1Aに示される。第1のパターン670aは、変換器要素の基板セグメント間にあり、基板セグメントの共通側面に沿った切断(例えば、トレンチ)を有する。典型的な1次元変換器アレイ601を有して、基板セグメントの共通側面は、変換器アレイ601の端部である。第1のパターン670とは異なり、第1のパターン670aは、所定の領域を未切断のまま残して、機械的に脆弱な接続部分または構造611a(例えば、テザー構造)を形成することを除いて、基板セグメントのほぼ完全な境界を画定する。機械的に脆弱な接続部分または構造670aは、製造工程およびパッケージング中に、変換器アレイ601を一時的に保持するために十分に強力であるが、変換器アレイ601を基板610から手動で分離する間は、変換器アレイ601を損傷することなく破壊されるように十分に脆弱となるように設計される。] 図6
[0056] 図7は、開示される方法の第4の典型的な実施形態を示す。図7は、個別の変換器要素に対して分離基板セグメントを形成する様々なステップにおいて、基板710上で製造される変換器アレイ701の底面図を示す。] 図7
[0057] 第1の切断ステップ(図7.1に示される)は、第1の切断パターン775を形成して、変換器要素の基板セグメントを部分的に分離する。第1の切断パターン775は、X軸によって示される水平方向に沿って延在するトレンチ(775)を含む。第2の切断パターン675の図示される実施形態は、2つのトレンチを含む。第1の切断パターン775における第1のトレンチは、変換器要素の基板セグメントの第1の共通側面(図7.1における上側)において形成され、第1の切断パターン775における第2のトレンチは、変換器要素の基板セグメントの第2の共通側面(図7.1における底面側)において形成される。第1の切断パターン775は、1次元変換器アレイ701の分離された基板セグメント(例えば、710−0、710−1および710−2)の長さを画定する。第1の切断パターン775は、好適な充填材料776で任意に充填される。当該材料776は、充填され得るか、または(例えば、酸化によって)局所的に形成され得る。第1の切断パターン775のトレンチは、変換器アレイ701の端部に配置されるため、第1の切断パターン775の形状および寸法、ならびに切断パターン775を形成する切断方法を選択する自由度がはるかに多い。例えば、第1の切断パターン775は、変換器アレイがパッケージングされる前または後のいずれかに、ダイシングによって簡単に形成され得る。] 図7
[0058] 第2の切断ステップ(図7.2に示される)は、第2の切断パターン770を形成する。図7.2は、このステップにおける、第1の切断パターン775および第2の切断パターン770を有する基板710の底面図を示す。トレンチ(770)は、基板セグメント(例えば、710−0、710−1および710−2)に対応する変換器要素の間に配置される。第2の切断パターン770は、1次元変換器アレイ701の分離された基板セグメント(例えば、710−0、710−1および710−2)の幅を画定する。第2の切断パターン770および第1の切断パターン775をともに組み合わせて、710−0、710−1および710−2等の分離された基板セグメントの境界を相補的に画定する。第2の切断パターン770は、必要に応じて、適切な材料を使用して任意に充填され得る。] 図7
[0059] 図7.2Aに示されるように、第2の切断ステップは、トレンチパターン770aを有し、機械的に脆弱な接続部分または構造711a(例えば、テザー構造)を所望の位置に形成して、依然として変換器アレイ701を基板710の残りに接続しているが、簡単な手動による断裂を可能にする。機械的に脆弱な接続部分または構造711aは、製造工程およびパッケージング中はアレイ701を保持するために十分に強力であり、基板710を用いてアレイ701を手動で分離する間は破壊されるように十分に脆弱であるよう設計され得る。] 図7
[0060] 図6〜7における方法の典型的な実施形態は、開示される方法を使用して形成される様々な典型的1次元cMUTアレイの断面図である、以下の図8〜9を参照して、変換器要素レベルで構造的詳細を示すことによってさらに説明される。] 図6 図7 図8 図9
[0061] 図8〜10は、図6または図7の方法で製造されるいくつかの典型的なcMUTの断面図を示す。図8におけるcMUT801は、アレイ内のすべてのcMUT要素801−0、801−1および801−2によって共有される共通の上部電極820を有する。各cMUT要素は、共通の上部電極820、分離した底面電極/基板セグメント(810−0、810−1、または810−2)、可撓性膜830、膜アンカー840、空洞/変換空間860、および第1のパターン化開口870をcMUT要素801−0、801−1および801−2の間に有する。] 図10 図6 図7 図8 図9
[0062] 図9におけるcMUT901は、cMUT要素901−0、901−1、および901−2の分離された上部電極および底面電極の両方をアレイ内に有する。各cMUT要素は、分離した上部電極(920−0、920−1および920−2)、分離した底面電極/基板セグメント(910−0、910−1および910−2)、可撓性膜930、膜アンカー940、空洞/変換空間960、および第1のパターン化開口970をcMUT要素の間に有する。] 図9
[0063] 図10におけるcMUT1001は、所望の電気接続部を有する追加基板に取り付けられるか、または統合される。各cMUT要素(1001−0、1001−1および1001−2)は、共通の上部電極1020、分離した底面電極/基板セグメント(1010−0、1010−1、または1010−2)、可撓性膜1030、膜アンカー1040、空洞/変換空間1060、および第1のパターン化開口1070をcMUT要素間に有する。追加の基板1080は、PCB、Flex、ICチップ、または他の基板であり得、所望の相互接続金属パターン1085を有し得る。本明細書に記載されるように、追加の基板1080は、支持基板として機能し、変換器要素1001−0、1001−1ならびに1001−2、およびそれらの対応する基板セグメント1010−0、1010−1ならびに1010−2を、基板セグメント1010−0、1010−1および1010−2間の残存する接続部(例えば、機械的に脆弱な接続部)および基板1010の残りが除去されるか、または破壊される前に、一時的に保持し得る。] 図10
[0064] 図10において、追加基板1080の相互接続部1085は、分離した基板セグメント(1010−0、1010−1または1010−2)を介して、底面基板1010の底面からアクセスされ得る。しかしながら、追加基板の相互接続部は、1次元変換器アレイの端部等の変換器の側面からもアクセスされ得る。] 図10
[0065] 開示される方法は、変換器アレイの底面または側面から変換器アレイの上部電極にアクセスするためのスルーウエハ相互接続部の形成にも適用され得る。かかるアクセスは、cMUTアレイ、特に、個別にアドレスされる電極として固定された底面電極を有する1次元アレイに望ましい場合がある。かかる適用の実施例は以下に説明される。]
[0066] 図11Aおよび図11Bは、底面から上部電極にアクセスするためのスルーウエハ相互接続部を有する、典型的なcMUT変換器アレイの底面図および断面図を示す。cMUTアレイ1101は、1101−1および1101−2等の複数のcMUT要素の1次元アレイを有する。各cMUT要素は、共通の上部電極1120、分離した底面電極/基板セグメント(例えば、1110−1または1110−2)、可撓性膜1130、膜アンカー1140、空洞/変換空間1160、第1のパターン化開口(トレンチ)1170、および第2のパターン化開口(トレンチ)1175を有する。cMUT要素に加えて、cMUTアレイ1101は、上部電極1120と電気的に接続するためにアレイに追加される相互接続要素1101aをさらに有し、上部共通電極1120はアレイの底面からアクセスされ得る。相互接続要素1101aは、アレイ内のcMUT要素の上部電極でもある、上部共通電極1120を共有し、上部電極1120と底面から電気的に接続する、スルーウエハコンダクタ(絶縁基板セグメント)1110aを含む。同様の設計を使用して、個別のcMUT要素の上部電極にアクセスすることもでき、アレイのcMUT要素は、分離した上部電極を有する。本実現形態において、相互接続要素1101aは、隣接するcMUT要素(例えば、1101−2)の上部電極にアクセスするためだけに使用される。] 図11A 図11B
[0067] スルーウエハコンダクタ(絶縁基板セグメント)1110aの形成は、本明細書に記載されるようなcMUT要素の分離した基板セグメント(底面電極)の形成に類似する。第1のパターン化開口1170は、相互接続要素1101aに対応する基板セグメント1110aの部分的な境界を画定し、基板セグメント1110aが、基板1110に残存する接続部分によって、依然として基板1110に部分的に接続されているようにする。第2のパターン化開口1175は、基板セグメント1110aを基板1110の残りに接続する接続部分を除去する。接続部分を除去する際に、基板セグメント1110aは、基板1110と直接接触しなくなり、さらにcMUT要素の基板セグメント(例えば、1110−2および1110−1)と直接接触しなくなる。基板1110は導電性であるため、基板セグメント1110aは、cMUT要素によって共有される上部電極1120に対する相互接続部として機能する。これによって、cMUT要素の上部電極は、基板の底面側からアクセスされ得る。相互接続要素1101aは、任意の変換器機能を内蔵しないため、そのサイズは、cMUT要素のサイズと同一でない場合がある。さらに、相互接続要素1101aは、cMUTアレイ1101の境界に沿って任意の場所に配置され得、好ましくは、相互接続要素1101aによってアクセスされるcMUT要素(例えば、1110−0)付近に配置され得る。]
[0068] 上述の相互接続アプローチは、空間制限および変換器アレイ内に形成され得る相互接続パッドの総数の制限のために、IVUSおよびICE用途においてcMUTアレイに非常に有用であり得る。かかる使用の実施例は、いずれも本出願と同日に出願された国際(PCT)特許出願第______号(代理人整理番号KO1−0004PCT2)、名称「CMUTPACKAGING FOR ULTRASOUND SYSTEM」、および国際(PCT)特許出願第______号(代理人整理番号KO1−0018PCT)、名称「PACKAGING AND CONNECTING ELECTROSTATIC TRANSDUCERARRAYS」において開示される。]
[0069] 本明細書で論じられる可能な利益および利点は、添付の請求項の範囲に対する制限または限定と見なされないことを理解されたい。]
[0070] 主題は、構造的特徴および/または方法論的行為に特異的な言語で説明されているが、添付の請求項において定義される主題は、説明される特定の機能または行為に必ずしも限定されないことを理解されたい。むしろ、特定の機能および行為は、請求項を実現する典型的な形態として開示される。]
权利要求:

請求項1
静電変換器を製造するための方法であって、少なくとも1つの変換器要素を基板上に含む変換器を形成するステップと、第1のパターン化開口を前記基板内に形成するステップであって、前記第1のパターン化開口は、前記変換器要素に対応する基板セグメントの部分的な境界を画定し、前記基板セグメントは、前記基板内に残存する接続部分を通じて、依然として前記基板の残りに部分的に接続されるようにする、ステップと、前記基板セグメントを固定して、前記基板セグメントが、前記基板内の前記接続部分が除去されたとしても、前記基板との安定性を維持するようにするステップと、前記基板内の前記接続部分を除去して、前記基板セグメントが前記基板の残りと直接接触しないようにするステップとを含むことを特徴とする方法。
請求項2
前記基板は導電性であり、前記基板内の前記接続部分を除去した後、前記基板セグメントは、個別にアドレスされる前記基板の残りから電気的に分離された前記変換器要素の底面電極として機能することを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項3
前記基板を固定するステップは、前記第1のパターン化開口内に充填材料を追加または形成するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項4
前記基板を固定するステップは、前記変換器アレイを支持基板に取り付けるステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項5
前記支持基板は、前記変換器を外部に接続するための導電接続部を含むパッケージング基板であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項6
前記接続部分を除去するステップは、前記基板内に第2のパターン化開口を形成するステップであって、前記第1のパターン化開口および前記第2のパターン化開口は、ともに前記基板セグメントの完全な境界を画定し、前記基板セグメントを前記基板の残りから分離するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項7
前記接続部分は機械的に脆弱な接続部であり、前記接続部分を除去するステップは、前記機械的に脆弱な接続部を破壊するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項8
前記変換器は、前記基板の正面側に形成され、前記第1のパターン化開口は、前記基板の裏面から形成されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項9
予備のパターン化された開口を前記基板の第1の側面から形成し、前記基板内の深部に到達させるステップであって、前記第1のパターン化開口は、前記予備のパターン化された開口に会合するように、前記基板の対向側面から形成されるステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項10
前記基板内の前記接続部分を除去するステップは、前記基板内の第2のパターン化開口を、前記基板の前記対向側面から形成して、前記予備のパターン化開口に会合させるステップであって、前記予備のパターン化開口、前記第1のパターン化開口、および前記第2のパターン化開口はともに前記基板セグメントの完全な境界を画定し、前記基板セグメントを前記基板の残りから分離するステップを含むことを特徴とする請求項9に記載の方法。
請求項11
前記予備のパターン化された開口を形成するステップは、前記変換器が形成される前に、前記予備のエッチングパターンを、前記基板の前記第1の側面上に直接形成するステップを含むことを特徴とする請求項9に記載の方法。
請求項12
前記静電変換器は、容量性マイクロマシン加工超音波変換器(cMUT)であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
請求項13
静電変換器アレイを製造するための方法であって、少なくとも1つの第1の変換器要素および第2の変換器要素を含む変換器アレイを基板上に形成するステップと、第1のパターン化開口を前記基板内に形成するステップであって、前記第1のパターン化開口は、前記第1の変換器要素に対応する第1の基板セグメント、および前記第2の変換器要素に対応する第2の基板セグメントの部分的境界を画定して、前記第1の基板セグメントおよび前記第2の基板セグメントが、前記基板内に残存するそれぞれの接続部分によって、依然として前記基板に部分的に接続されているようにするステップと、前記第1および前記第2の基板セグメントを固定して、前記第1および前記第2の基板セグメントが、前記接続部分が除去されたとしても、前記基板との安定性を維持するようにするステップと、前記接続部分を除去して、前記第1および前記第2の基板セグメントが、前記基板と直接接触せず、さらに前記基板内で互いに直接接触しないようにするステップとを含むことを特徴とする方法。
請求項14
前記基板は導電性であり、前記第1の基板セグメントは、前記第1の変換器要素の底面電極として機能し、前記第2の基板セグメントは、前記第2の変換器要素の底面電極として機能し、前記基板内の前記接続部分を除去した後に、前記第1および前記第2の変換器要素の前記底面電極は、互いから電気的に分離されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項15
前記基板を固定するステップは、前記第1のパターン化開口内に充填材料を追加または形成するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項16
前記基板を固定するステップは、前記変換器アレイを支持基板に取り付けるステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項17
前記接続部分を除去するステップは、前記基板内に第2のパターン化開口を形成するステップであって、前記第1のパターン化開口および前記第2のパターン化開口は、ともに前記第1の基板セグメントおよび前記第2の基板セグメントの完全な境界を画定するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項18
前記接続部分は機械的に脆弱な接続部であり、前記接続部分を除去するステップは、前記機械的に脆弱な接続部を破壊するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項19
前記変換器アレイは、前記基板の正面側上に形成され、前記第1のパターン化開口は、前記基板の裏面から形成されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項20
前記第1のパターン化開口は、前記第1と前記第2の変換器要素との間の第1の水平方向に沿ったトレンチを含み、前記接続部分を除去するステップは、第2のパターン化開口を前記基板内に形成するステップであって、前記第2のパターン化開口は、前記第1および前記第2の変換器要素の共通側面上に第1の開口を含み、前記第1および前記第2の変換器要素の対向共通側面上に第2の開口を含み、前記第2のパターン化開口は、前記第1の水平方向に実質的に垂直な第2の水平方向に沿って延在するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項21
前記変換器アレイは、前記第2の水平方向に配置される1次元アレイを含み、前記第1および第2の変換器要素の前記第1の共通側面は、前記変換器アレイの端部付近にあり、前記第1および前記第2の変換器要素の前記第2の共通側面は、前記変換器アレイの対向端部付近にあることを特徴とする請求項20に記載の方法。
請求項22
前記第1のパターン化開口は、前記第1および前記第2の変換器要素の共通側面上に第1の開口を含み、前記第1および前記第2の変換器要素の対向共通側面上に第2の開口を含み、前記第1の開口および前記第2の開口は、第1の水平方向に沿って延在し、前記接続部分を除去するステップは、前記第1の水平方向に実質的に垂直な第2の水平方向に沿って、前記第1と前記第2の変換器要素との間にトレンチを含む第2のパターン化開口を形成するステップを含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項23
前記接続部分を除去するステップは、前記第1の変換器要素および前記第2の変換器要素を前記基板の残りから完全に分離して、前記変換器アレイが前記基板の残りから除去され得るようにすることを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項24
前記基板の深部に到達するように前記基板の第1の側面から予備のパターン化開口を形成するステップをさらに含み、前記第1のパターン化開口は、前記予備のパターン化開口に会合するように前記基板の対向側面から形成されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項25
前記基板内の前記接続部分を除去するステップは、前記予備のパターン化開口に会合するよう、前記基板の前記対向側面から前記基板内に第2のパターン化開口を形成するステップを含み、前記予備のパターン化開口、前記第1のパターン化開口、および前記第2のパターン化開口はともに前記第1の基板セグメントおよび前記第2の基板セグメントの完全な境界を画定することを特徴とする請求項24に記載の方法。
請求項26
前記変換器アレイは、前記第2の変換器要素の上部電極に接続する相互接続要素をさらに含み、前記第1のパターン化開口は、前記相互接続要素に対応する第3の基板セグメントの部分的な境界を画定して、前記第3の基板セグメントが、前記基板内に残存するそれぞれの接続部分によって、依然として前記基板に部分的に接続されるようにし、前記それぞれの接続部分を除去した後、前記第3の基板セグメントが、前記基板に直接接触せず、さらに前記第2の基板セグメントに直接接触しないようにすることを特徴とする請求項13に記載の方法。
請求項27
前記基板は導電性であり、前記基板内の前記それぞれの接続部分を除去した後、前記第3の基板セグメントは、前記第2の変換器要素の前記上部電極に対する相互接続部として機能し、前記第2の変換器要素の前記上部電極が、前記相互接続部を通じて前記基板の底面側からアクセスされ得るようにすることを特徴とする請求項26に記載の方法。
請求項28
静電変換器アレイを製造するための方法であって、それぞれの基板セグメントに各々対応する複数の変換器要素を含む変換器アレイを基板上に形成するステップと、第1のパターン化開口を前記基板内に前記基板の側面から形成するステップであって、前記第1のパターン化開口は、前記基板セグメントの部分的な境界を画定し、前記基板セグメントが、前記基板内に残存するそれぞれの接続部分によって、各々依然として前記基板に部分的に接続されるようにする、ステップと、前記基板セグメントを固定して、前記基板セグメントが、前記接続部分が除去されるとしても、前記基板との安定性を維持するようにする、ステップと、第2のパターン化開口を前記基板内に前記基板の同一側面から形成し、前記接続部分を除去するステップであって、前記基板セグメントが、前記基板と直接接触せず、さらに互いに直接接触しないようにする、ステップとを含むことを特徴とする方法。
請求項29
前記基板を固定するステップは、前記第1のパターン化開口内に充填材料を追加または形成するステップを含むことを特徴とする請求項28に記載の方法。
請求項30
静電変換器アレイを製造するための方法であって、第1の水平方向に並んで配列された複数の変換器要素の1−D変換器アレイを基板上に形成するステップであって、各変換器要素はそれぞれの基板セグメントに対応するステップと、第1のパターン化開口を前記基板内に前記基板の側面から形成するステップであって、前記第1のパターン化開口は、前記基板セグメントの部分的な境界を画定して、前記基板セグメントが、前記基板内に残存するそれぞれの接続部分によって、依然として前記基板に部分的に接続されるようにするステップと、前記基板セグメントを固定して、前記接続部分が除去されても、前記変換器アレイの前記基板セグメントが、前記基板と安定して維持されるようにするステップと、第2のパターン化開口を前記基板内に前記基板の同一側面から形成して前記接続部分を除去するステップであって、前記第1のパターン化開口および前記第2のパターン化開口のうちの一方は、それぞれ2つの隣接する変換器要素の間に配置され、前記第1の水平方向に実質的に垂直な第2の水平方向に沿って延在する複数のトレンチを備え、前記第1のパターン化開口および前記第2のパターン化開口のうちの他方は、前記複数の変換器要素の共通側面上に第1の開口を含み、前記複数の変換器要素の対向する共通側面上に第2の開口を含み、前記第1のパターン化開口および前記第2のパターン化開口は、ともに前記基板セグメントを分離して、前記基板セグメントが、前記基板と直接接触せず、さらに前記基板内で互いに直接接触しないようにする、ステップとを含むことを特徴とする方法。
类似技术:
公开号 | 公开日 | 专利标题
US10782269B2|2020-09-22|Microfabricated ultrasonic transducers and related apparatus and methods
US9386379B2|2016-07-05|MEMS microphone
US20200111834A1|2020-04-09|Integrated piezoelectric microelectromechanical ultrasound transducer | on integrated circuit | for fingerprint sensing
US9815685B2|2017-11-14|Semiconductor sensing structure and manufacturing method thereof
CN104634501B|2019-02-15|压力传感器
US20180130795A1|2018-05-10|Ultrasonic transducers in complementary metal oxide semiconductor | wafers and related apparatus and methods
JP2015180521A|2015-10-15|単結晶シリコン電極を備えた容量性微小電気機械式センサー
EP2969914B1|2020-01-01|Complementary metal oxide semiconductor | ultrasonic transducers and methods for forming the same
Khuri-Yakub et al.2011|Capacitive micromachined ultrasonic transducers for medical imaging and therapy
ES2416182T3|2013-07-30|Matriz CMUT de unión de ondas con vías conductoras
US7477572B2|2009-01-13|Microfabricated capacitive ultrasonic transducer for high frequency applications
EP1552721B1|2013-12-18|Micromachined ultrasonic transducers and method of fabrication
US7460439B2|2008-12-02|Ultrasonic transducer for ranging measurement with high directionality using parametric transmitting array in air and a method for manufacturing same
US7449821B2|2008-11-11|Piezoelectric micromachined ultrasonic transducer with air-backed cavities
KR101954102B1|2019-03-05|정전용량형 트랜스듀서, 정전용량형 트랜스듀서 제조 방법 및 피검체 정보취득장치
US10065851B2|2018-09-04|Microelectromechanical pressure sensor including reference capacitor
US9309106B2|2016-04-12|3D MEMS device and method of manufacturing
JP4622574B2|2011-02-02|超音波素子
JP4795683B2|2011-10-19|マイクロマシン加工した湾曲超音波トランスジューサ・アレイ並びに関連する製造方法
US10280074B2|2019-05-07|Monolithically integrated multi-sensor device on a semiconductor substrate and method therefor
US7500954B2|2009-03-10|Expandable ultrasound transducer array
CN101589543B|2012-10-31|微机电换能器
KR100634994B1|2006-10-16|고분자계 용량적 초음파 변환기의 제조 방법
JP5677016B2|2015-02-25|電気機械変換装置及びその作製方法
JP4868758B2|2012-02-01|センサ・アレイの素子を絶縁する方法及び手段
同族专利:
公开号 | 公开日
CN101874287A|2010-10-27|
JP5269090B2|2013-08-21|
EP2218094A1|2010-08-18|
CN101874287B|2012-08-29|
WO2009073706A1|2009-06-11|
US20100251537A1|2010-10-07|
US8429808B2|2013-04-30|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题
法律状态:
2011-11-26| A621| Written request for application examination|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111125 |
2012-12-10| A131| Notification of reasons for refusal|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121207 |
2013-03-08| A521| Written amendment|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130307 |
2013-04-01| TRDD| Decision of grant or rejection written|
2013-04-08| A01| Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130405 |
2013-05-16| A61| First payment of annual fees (during grant procedure)|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130507 |
2013-05-17| R150| Certificate of patent or registration of utility model|Ref document number: 5269090 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
2016-04-19| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2017-02-28| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2018-02-27| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2019-02-26| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2020-03-03| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
2021-05-11| R250| Receipt of annual fees|Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
优先权:
申请号 | 申请日 | 专利标题
[返回顶部]